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夏克-哈特曼波前探测器 SHSLab

哈特曼探测技术起源于1904年,约翰内斯·哈特曼(Johannes Hartmann)发表了一种使用带孔的金属掩模来测量物镜的技术。1971年,罗兰·夏克(Roland Shack)使用微透镜阵列代替孔,改进了该技术的光效率,使其能应用于天文光学。这一原理因而被称为夏克-哈特曼波前探测技术。

SHSLab利用这种几何光学Shack-Hartmann原理来测量波前。微透镜阵列将光束的局部倾斜转换为相机上的一系列聚焦点,通过数值积分,可计算出光点与参考点的偏差,后得到了波前与这些光点偏差的关系。该技术原理上允许使用单帧测量图像而实现波前测量,因此非常快速且不受环境振动等噪声的影响。

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SHSWorks软件具备强大的分析能力。其独到的波前重构算法使SHSLab能够测量线性动态范围大、局部曲率小的波前,并且能够分析Zernike系数、PSF/MTF、激光参数及屈光度等多种光学参数。

通过的硬件(SHSCam)和软件(SHSWorks),SHSLab提供了优越的精度、动态范围和灵活性。

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  • 常规属性

    用于光学测量:

    - M2曲率半径

    - 波前像差、PSF、MTF

    - Zernike 系数

    技术特点:

    - 较大的动态测量范围

    - 可测量波前倾斜或离焦  >1000 wave PV ,比如,波前倾斜角度可超过 +/- 10 deg,

    - 可测量波前畸变 超过>1000 wave PV, 比如,局部波前曲率>+/- 10mm

    - 较高的测量精度

    - 直接测量精度: < 6nm rms (无参考波前扣除情况下)

  • 性能参数

    SHSLab.jpg


    表2.jpg


    SHSCam – SWIR (980 - 1700 nm)

  • 附件选项

    - 望远系统

    - 参考球面

    - 物镜

    - 光源

    SHSlab accessory.png

技术文章

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