Optilayer光学薄膜设计软件被认为是计算快速，功能强大，界面友好的薄膜设计软件，软件共包含三个模块：OptiLayer薄膜设计主模块, OptiChar光学参数计算模块，optiRe工程反演模块。
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薄膜设计主模块 OptiLayer特有的针式优化算法提供了卓越的收敛速度和准确性，Optilayer是唯一一款软件，其所有的优化过程采用的是计算优化函数的梯度和Hesse矩阵的解析算法能够分析单个目标或者综合分析多个目标，如光谱特征目标、颜色目标和电场强度目标能够设计和分析各种薄膜：增透膜，高反膜，各种滤光片，分束镜，偏振片，啁啾镜，颜色膜(CIE xyz, CIE L*b*, CIE H0LC, CIE L*u*v*, Hunter Lab) 等唯一能够精确设计群延迟和群延迟色散特征的薄膜软件单镜片薄膜优化和多镜片光学系统薄膜优化对于初学者，精心开发的界面和多种自动模式可以解决复杂的设计问题，多数设计可以从单层膜开始自动优化对于经验丰富的设计人员，特殊的设计模式可以满足复杂的要求，并使您的所有经验有效地应用于各种设计问题宽带和多波长监控模拟功能滤光片自动设计界面，只需要输入波长，带宽等参数即可自动优化能够模拟和分析膜层界面粗糙度模型针对色散和吸收膜系，能够进行大光谱范围和宽入射角度的分析薄膜材料折射率和镀膜厚度误差分析软件每年至少发布一次更新，使软件能够结合新的镀膜设备和镀膜工艺
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参数计算模块 OptiChar
OptiChar是唯一能够准确计算单层膜光学参数的软件模块，不管是吸收性薄膜还是非吸收性薄膜，都可以应用软件提供的计算模型，进行折射率和消光系数的准确计算。计算模型有Cauchy model, Selleier model, Hartmann model, n and K model（适用于前面模型无法解决的复杂问题）
计算模块的主要特点：
- 计算膜材料的折射率n和消光系数K，包括金属膜，介质膜，ITO膜等
- 分析基底材料的n和K
- 根据膜的透过率和反射率，计算单层膜的厚度
能够从Alilent, Perkin Elmer, Woollam, Hitachi等光谱仪器直接导入光谱数据
- 能够从Excel表格、TXT文本种选择数据列导入
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工程反演模块 OptiRe
OptiRe是为利用分光光度计/椭偏仪测量数据进行工程反演而专门开发的，它为薄膜沉积过程提供了反馈信息，能够发现薄膜沉积过程中膜厚误差的来源，提高工艺水平。OptiRe采用独立的算法，利用多种分析选项，能够从实验数据中提取尽可能多的信息，包括随机误差分析模型、系统误差分析模型、折射率校正模型等。
OptiRe反演结果以图表的形式给出，这些结果可以是膜厚误差，修正后的折射率和消光系数等。
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动态链接库 OptiReOpt
OptiReOpt动态链接库（可选安装），不是一个界面，而是一系列可以条用的DLL动态链接库，它可以嵌入到任何支持调用的环境中，比如
- Microsoft Visual Studio version 6.0 (C++, Visual Basic)
- Microsoft Visual Studio 2005-2017 (C++, C#, Visual Basic)
- Embarcadero C++ Builder (any version)
- Embarcadero Delphi (version 5.0 and higher)
- LabVIEW version 5.xx and higher
- Java (at Windows platform)
OptiReOpt可以用于监控薄膜的沉积过程，与宽光谱膜厚监控仪结合，可以在镀膜的过程，修正设计参数，实现边镀膜边设计。
