PHOTON RT UV-VIS-MWIR 分光光度计
Photon RT UV-VIS-MWIR分光光度计用于185-5200nm波长范围内带涂层平面光学元件的无人值守测试，可自动在不同角度对光学元件进行各种偏振态的透过率和绝对反射率测试，不需要额外添加附件。
• 世界上个专为光学涂料器设计的分光光度计
• 世界上唯一具有测量UV-MWIR（220-5200 nm）偏振能力的设备，深入了解光学表面的真实性能
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主要优势
• 专为光学测试设计和优化(不考虑生化应用)，标准配置可涵盖大部分测试需求，无需额外附件。
• 极端入射角的测量，可实现0-75度（可扩展到85）透射测量和8-75度（可扩展到85）绝对反射率测量。
• 全自动化测量，改变入射角后无需重新校准基线，测量基板上同一区域的透射率和绝对镜面反射率——非常适合薄膜设计的反向分析，减少人为因素的影响。
• 涵盖市场上广测试波段，宽可涵盖185nm-5200nm。
• 绝对反射率测量，可高达99.99%。
• 厚样品透过率测试，可自动计算光线偏移量，自动控制传感器进行补偿，进行准确测量，无需其他附件。光束偏移，高达 +/- 60, 0 mm。
• 可直接进行棱镜测试，只需更换样品台。
• 改进的单色仪具有高度准直的光束，具有低杂散光，高信噪比的特点。
• 与市场上产品相比，测量速度提高数倍。
• 改变光斑尺寸，实现极端小口径样品测试。
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可选样品台
适用于多个样品测试、样品旋转、基板扫描测试等
• 自动样品台
• 非自动样品台
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PHOTON RT 分光光度计
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样品室
用于样品台的燕尾底板 设计用于安装电动和非电动样品台，集成控制器确保电动平台的即时检测 平面样品台 用于测量尺寸大于12.0 x 10.0 mm的平面样品的透射和反射 独立定位 样品台和光电探测器单元的独立计算机控制定位 同步定位 样品台和光电探测器单元的同步计算机控制定位取决于所选的光度功能 样品尺寸 min：12 x 10 mm – 用于入射角 0 ° - 10° . min：12 x 25 mm - 用于入射角 10 ° - 75° max：样品尺寸 up to 152.4 mm (6”) （标准样品台及样品仓完全封闭） up to 140.0 mm (5 1/2”) （Z Stage样品台及样品仓完全封闭） PBS立方体的样品台 50 x 50 x 50 mm 样品台，带两个额外夹具 1” x 1” x 1” and 1/2" x 1/2" x 1/2" 可选 电动和非电动样品台 1.MP Stage - 多样品测量 2.XY Stage - XY样本映射 3.XY-MZF stage - 多区滤波器和线性可变滤波器的测量 4.Z Stage - 无需打开盖子即可进行连续基线校准和样品测量 5.QW Stage - 波片测试 6.R Stage - 样品绕光束轴旋转360度 7.7085 Stage - 在高达85°的极端入射角下进行测量 -
接口、尺寸和重量
连接文件保存格式 res (txt), xls, pdf, csv 功耗 110 W 外观 425 mm x 625 mm x 285 mm (W x D x H) , 净重 50 kg
2024-09-26
