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相位测量偏折术（PMD： Phase Measurement Deflectometry），经过近20年的研究与发展，已经被证明是解决非球面及自由曲面快速测量的佳方案之一。WyseLight 公司结合其专利的同轴标定测量技术方案，解决了屏幕标定（Identification）与复杂的相位分步偏折解包算法两大应用难题，首次实现了PMD技术的仪器化，标志着这项技术进入了广泛应用阶段。

WyseLight的Raymaster非球面测量仪，可以实现非球面及自由曲面面形的快速测量，测量精度可达λ/40 （约15nm rms），并且无需复杂装调，无需光学平台，无需专业人员操作。