Photon RT 0420 超分辨分光光度计
PHOTON RT 0420 Ultra 具有前所未有的 0.06 nm 光谱分辨率，为尖端滤光片的性能鉴定提供了无与伦比的灵活性。其先进的功能可实现低至 OD8 的宽带测量，并能够表征小至 0.02% 的光谱陡度。
专为满足超级薄膜的严格要求而设计，波长范围为 340nm 至 2000nm，适用于多种先进应用的光学薄膜，包括激光雷达、荧光显微镜、激光安全、电信、太空探索、国防和安全。
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主要特点
- 高光密度薄膜的表征
杂散光水平极低（仅1ppm），再加上强信号，可实现高达 OD8 的光密度值的默认测量能力。下图显示了带通滤光片的高 OD宽带测量结果。
- 超窄带通滤波器的测量
PHOTON RT 0420 Ultra 分光光度计不仅成功应对了当前的计量挑战，还启发了薄膜专家设计和生产带宽极小的复杂薄膜类型。以下示例展示了针对可见光和近红外范围优化的超窄带通滤光片的测量。
- 高光谱分辨率
PHOTON RT 0420 Ultra 分光光度计采用精心设计的附加 Czerny-Turner 双单色仪，提供 0.06 nm 超高光谱分辨率。
下面的示例展示了单色仪区分汞灯双光谱中两个相距很近的波长的能力。分光光度计的高光谱分辨率，可以胜任对具有陡峭斜率和小带宽的超窄带通滤光片的测量。
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光学配置
参数 描述 型号 0420 光学配置 单色仪光学方案 Double Additive Czerny-Turner 光学 镜子 参考通道 有 波长采样间距，nm 0.01 至 100 测量样品上的光斑尺寸，mm 4 x 3 光度测定功能 %T, 外径 有效波长范围，nm 340-2000 极限光谱分辨率，nm 400-990 990-2000 0,06 0,13 波长准确度，nm 400-990 990-2000 +/- 0.02 +/- 0.04 波长重复精度，nm 400-990 990-2000 +/- 0.01 +/- 0.02 终光密度，-log10(T) 340-420 420-925 925-2000 6 8 7 532 nm 处的杂散光水平，% < 0,000001（1ppm） 光束发散角度 +/- 0.2 光度测定准确度 （可见光） NIST SRM 930e：+/-0.003 Abs（1 Abs） NIST SRM 1930：+/-0.003 绝对值（0.33 绝对值）；+/-0.006 绝对值（2 绝对值） 光度重复精度 （视觉效果） NIST SRM 930e：0.0004 Abs（1 Abs） NIST SRM 1930：0.0001 Abs（0.33 Abs）；0.005 Abs（2 Abs） 使用0.1秒累积确定，连续10次测量的大偏差 基线稳定性，%/小时 < 0.2（预热时间 1 小时） 光源 高能等离子源，HgAr 波长校准灯。 400-990 所有光源均为内置且预配置 -
样品室
标准样品台（含） 测量尺寸大于 8 x 10 mm的平面样品的透射率 样本大小 小 6 x 4 毫米 大样本尺寸： 标准样品台大尺寸为 55 (90) mm x 120 mm，带封闭盖子 大可达 152.4 mm（圆形），带闭合盖子，可安装可选电动样品台 -
接口、尺寸和重量
界面 USB 2.0，基于Windows，英语 文件保存选项 res (txt)、xls、pdf、csv 功耗Watt 250 电源输入 110-220v，50-60 hz 宽 x 深 x 高，毫米（inches） 820 × 545 × 360 (32 2/5" × 25 2/5" × 14 1/5") 净重，公斤（lbs） 55（121） 预热 60 分钟后测量的值
