光热式弱吸收测试EPTS
该仪器基于光热共路干涉仪（PCI）技术制造，这是一种改进的热透镜测量技术。泵浦激光的聚焦光束产生局部热效应，光学探针在加热区域发生相位畸变。探测器把相位畸变引起的波前变化记录下来。因为波前对相位的变化非常敏感，引起相位变化的原因是干涉，因而这种变化可以在发生畸变的区域附近明显看到，这样就把热透镜的远场测量在近场实现，大大降低了测量噪声，提高了仪器的灵敏度，可以实现小于0.1ppm的超高灵敏度。
目前世界上几乎所有研究激光材料的公司都有PCI弱吸收测试仪来控制材料的弱吸收特性，该PCI测试已经是业界一个公认的仪器。
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常规属性
- 高灵敏度: 优于0.1 ppm
- 可进行样品表面及内部3D测量
- 对表面散射不敏感
- 开放的仪器设计，便于光路调节与样品调整
- 主要应用在材料与薄膜的吸收特性测试，薄膜制造工艺的精密监控等领域， 可用于如下具体应用：
> 光学材料：玻璃与晶体的材料体吸收、材料均匀性、激光诱导吸收、退火效果等
> HR、AR薄膜：膜层弱吸收、表面缺陷与污染等
> 非线性激光晶体如KTP、BBO、LBO、CBO、LiNbO3、LiTaO3等： 灰迹表征、诱导吸收等
> 胶合表面：光胶接口，液晶电池等
> 液体和气体等样品
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配置选项
- 测量方式可选：透射式、反射式，带角度测试等。
- 可选泵浦激光波长：1319nm, 1064nm, 532nm, 355nm
- 可选测量通道：标配单泵浦光，可选2通道、3通道
